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涂镀层测厚仪的测量原理
涂镀层测厚仪的测量原理
常规便携式的涂镀层测厚仪的测量原理有两种:电磁感应法和电涡流法。
电磁感应法是
当磁性金属表面覆盖有非磁性金属或绝缘层
(
如钢件上的镀铬层或油漆层
)
时
,
同样可以利用电磁感应方法来测量其厚度。当线圈中通过激励电流时
,
检测线圈和磁性基体之间建立了磁通路
,
由于线圈和磁性基体之间间隙的变化
(
即非磁性膜层厚度的影响
) ,
会改变磁路的磁阴
,
并引起磁路中磁通量的变化
,
因此
,
只要通过检测线圈上感应电压的测量
,
得出感应电压与间隙
(
即膜厚
)
的定量关系曲线
,
再将其标记在指示仪表的表盘上
,
以后便可直接从指示仪表上读出膜层的厚度。
电涡流法是
测量金属薄板厚度时
,
检测线圈既可以采用反射法也可以采用透射法。反射法是探头的发射与接收线圈在被测体的同一侧
,
所接收的信号是阻抗幅度变化信号
,
材料厚度的变化对接收线圈阻抗变化呈非线性关系。因此
,
要求在测量仪器内部实现非线性校正
,
所以
,
会产生较大的测量误差。透射法是根据探头线所产生的涡流场分布情况
,
即在不同深度下涡流相位滞后程度随深度增加而增大
,
根据接收信号与激励信号之间的相位差直接得到被测材料厚度值
,
无需进行非线性校正。
总的来说
厚度测量的应用主要有两个方面
:
金属基体上膜层厚度的测量和金属薄板厚度的测量。非磁性金属上绝缘层厚度的测量
,
是涡流测厚的一个重要应用领域。由于非磁性金属均为导电率较高的有色金属
,
所以
,
测量其表面绝缘层厚度实质上是测量探头线圈到基体金属的距离。为了抑制基体金属电导率变化对测量结果的影响
,
一般都选用较高的检测频率
,
此时
,
基体电导率对电感分量的影响可以忽略
,
而对电阻分量的影响仍较为显著。又由于电感分量主要受距离变化的影响。电阻分量主要受电导率变化的影响
,
因此
,
只要从电路上将探头阻抗变化信号的电感量取出
,
再进行调零和校正
,
就可测量出绝缘层厚度的变化。
苏州圣光主要生产和经营
铁素体测试仪
(
铁素体测量仪
、
铁素体含量检测仪
、
铁素体测定仪
Ferrite meter或Ferrite Determ)、
超声波探伤仪
、
紫外线灯
、x射线测厚仪(x-ray镀层测厚仪、荧光测厚仪、x射线光谱仪)以及特殊测厚仪如高温测厚仪,及其配件高温探头,
高温耦合剂
等等,欢迎新老客户来电咨询。
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