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磁性膜厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 磁性膜厚仪
产品型号: 820F
产品展商: 苏州圣光sungod
关注指数:1512
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简单介绍
磁性膜厚仪820F是测量钢、铁等磁性金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。广泛地应用在涂装制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

磁性膜厚仪的详细介绍

磁性膜厚仪820F

磁性膜厚仪820F功能简单叙述: 测量铁磁性金属基体上的非导磁涂层的厚度

磁性膜厚仪820F技术参数
   测量范围:
0-2000UM

       测量精度:零点校准,±(3%H±1);二点校准;±[(1%3%)]H±1.5

       显示精度:0.1(<10um1um(>100um

       环境温度:0-40

       相对湿度:≤85%

       *小基体:10*10 mm

       *小曲率:凸5mm;凹25mm

       *薄基体:0.3mm

       重量:128G

     电源:7号电池2



 

磁性膜厚仪820F使用方法

       1 按下电源开关ON/OFF,听到“嘟”声提示,仪器自动进入测量状态,自动恢复上次关机前的参数设置。

       2 将探头垂直压紧到被测涂层上,显示屏上的值即为待测涂层的测量值(如觉得测量结果不**时可对仪器进行校准,校准步骤见第三点:仪器校准)。

       3 注意:每次测量时请勿必将探头提高到1厘米以上,探头压上被测物体时速度不能太慢。

 

磁性膜厚仪820F仪器校准

1 校零

将探头压在基准块上(或不带涂层的测量物体上)     ,再按一下校零键“ZERO”进行校零。在按“ZERO”键时,测量探头在基准块上不要晃动,且只有在按完“ZERO”键后,才能提起探头,否则,校零不正确。

2 将测量探头提起到1厘米以上,然后再将探头以正常的速度压在基准块上(或不带涂层的测量体上),若在同一点的测量值在“0附近,说明校零成功,否则,应重新校零。

 校准

根据要测量的涂层厚度,选择适当的标准膜片,进行校准。

 先将标准膜片放在基准块上(或不带涂层的测量体上),再将测量探头压在标准膜片上,若显示屏上测量值与标准膜片不同,测量值可通过“+”或“-”键来修正(通过“+”“-”键进行修正时,请提起探头)。

为保证校准的准确性,可通过多次测量同一标准膜片来验证。


 

 

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