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泛美超声波测厚仪单晶探头

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 泛美超声波测厚仪单晶探头
产品型号: M106-SM V260-SM M2008 M208-SM
产品展商: 美国泛美panametrics
关注指数:9105
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简单介绍
泛美超声波测厚仪单晶探头用于**厚度测量,区别于如D799/D790-SM等用于腐蚀测厚操作的双晶探头。泛美超声波测厚仪单晶探头可以分类为:接触式探头如M106-SM、Sonopen探头如V260-SM、水浸探头如M316-SU、延迟块探头如M2008/M208-SM等

泛美超声波测厚仪单晶探头的详细介绍

泛美超声波测厚仪单晶探头有众多种类,具体有:M101-SB、M102-SB、M103-SB、M106-RM、M106-SM、M1036、M109-RM、M109-SM、M110-RM、M110-SM、M110H-RM、M112-RM 、M112-SM、M112H-RM、M1016、M116-RM、M116-SM、M116H-RM、V260-SM、M306-SU、M309-SU、M310-SU、M312-SU、M313-SU、M316-SU、M2008、M207-RB、M206-RB、M201-RM、M201H-RM、M202-RM、M202-SM、M202H-RM、M203-RM、M203-SM、M208-RM、M208-SM、M208H-RM、M2055、V213-BC-RM。各个探头具体参数指标如下表:


触式探头(泛美超声波测厚仪单晶探头)

频率

晶片直径


探头


工件编号

mm

in.

0.5

25

1.00

M101-SB*

U8400017

1.0

25

1.00

M102-SB*

U8400018

1.0

13

0.5

M103-SB*

U8400020

2.25

13

0.5

M106-RM

U8400023

M106-SM

U8400025

2.25

13

0.5

M1036

U8400020

5.0

13

0.5

M109-RM

U8400027

M109-SM

U8400028

5.0

6

0.25

M110-RM

U8400030

M110-SM 
M110H-RM**

U8400031 
U8400029

10

6

0.25

M112-RM 
M112-SM

U8400034 
U8400035 
U8400033

M112H-RM**

U8400033

10

3

0.125

M1016

U8400015

20

3

0.125

M116-RM

U8400038

M116-SM

U8400039

20

3

0.125

M116H-RM**

U8400037

*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。 
**
需使用弹簧加载支架。 

 

Sonopen 探头(泛美超声波测厚仪单晶探头)

Sonopen探头的延迟块可以更换,其端部为锥形,可接触到极其狭窄的区域。这种探头可以在测量涡轮叶片厚度及塑料容器的内圆角的厚度等应用中提供可靠的厚度读数。

Sonopen - 15 MHz3 mm0.125 in.)探头

平直手柄

直角手柄

45°手柄

工件

工件 
编号

工件

工件 
编号

工件

工件 
编号

V260-SM

U8411019

V260-RM

U8411018

V260-45

U8411017

 

Sonopen - 可替换的延迟块(泛美超声波测厚仪单晶探头)

尖端直径

工件

工件 
编号

mm

in.

2.0

0.080

DLP-3

U8770086

1.5

0.060

DLP-302

U8770088

2.0

0.080

DLP-301†

U8770087

高温延迟,可用于高达175°C的温度。

 

水浸探头(泛美超声波测厚仪单晶探头)

Panametrics Microscan水浸探头的设计目的是在水中传播并接收超声波。当被测样件的几何形状较为复杂或进行在线检测时,通过水浸技术获得的厚度读数通常更为可靠。典型的离线应用包含对小直径塑料或金属管件的壁厚测量,扫查或旋转测量,以及对大幅弯曲的样件进行的厚度测量。在某些应用中可能需要探头触及到极其狭小的区域。

频率
MHz

晶片直径


探头


工件编号

mm

in.

2.25

13

0.50

M306-SU

U8410027

5.0

13

0.50

M309-SU

U8420001

5.0

6

0.25

M310-SU

U8420004

10

6

0.25

M312-SU

U8420008

15

6

0.25

M313-SU

U8420009

20

3

0.125

M316-SU

U8420011

RBS-1水浸箱

RBS-1水浸箱的设计目的是简化利用水浸技术的超声测厚操作。

 

延迟块探头(泛美超声波测厚仪单晶探头)

Microscan延迟块探头可在测量极薄材料,温度极高,或要求极高厚度分辨率的应用中,发挥优良的测量性能。

频率 
MHz

晶片 
直径


探头


工件 
编号


支架


工件 
编号

mm

in.

0.5

25

1.00

M2008*

U8415001

-

-

2.25

13

0.50

M207-RB

U8410017

-

-

5.0

13

0.50

M206-RB

U8410016

-

-

5.0

6

0.25

M201-RM

U8410001

-

-

5.0

6

0.25

M201H-RM

U8411030

2127

U8770408


10


6


0.25

M202-RM

U8410003


-


-

M202-SM

U8410004

10

6

0.25

M202H-RM

U8507023

2127

U8770408


10


3


0.125

M203-RM

U8410006


-


-

M203-SM

U8410007


20


3


0.125

M208-RM

U8410019


-


-

M208-SM

U8410020

20

3

0.125

M208H-RM

U8410018

2133

U8770412

20

3

0.125

M2055**

U8415013

-

-

30

6

0.25

V213-BC-RM**

U8411022

-

-

*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。 
**
这些探头中的延迟块不能替换。

 

可替换的延迟块 (泛美超声波测厚仪单晶探头)

延迟块的作用是在被测样件表面与探头晶片之间充当保护性缓冲器。

晶片 
直径

延迟块

*大厚度 
测量极限*

mm

in.

工件

工件 
编号

- 模式2

- 模式3

塑料- 模式2

mm

in.

mm

in.

mm

in.

13

0.50

DLH-2

U8770062

25

1.0

13

0.5

13

0.5

6

0.25

DLH-1

U8770054

25

1.0

13

0.5

13

0.50

3

0.125

DLH-3

U8770069

13

0.5

5

0.2

5

0.2

 

附加产品(泛美超声波测厚仪单晶探头)

泛美常温耦合剂和泛美高温耦合剂

为得到探头与被测样件之间的声学耦合,几乎总会需要液体耦合剂。我们所提供的各种耦合剂几乎可以适用于所有应用。

 

校准试块

试块是校准超声测厚仪的必要工具,为保持、核查超声测量的**性、独立性及可靠性,一定要使用校准试块。试块所使用的公差标准较ASTM E797规范中表述的公差更为严格。我们备有公制单位的试块。

 

探头线缆

我们提供适用于所有超声测厚仪器的各种探头线缆。

标准型

防水型

耐用型

特氟纶(Teflon

PVC外壳

带硅树脂外壳

不锈钢

其他相关测量仪器:铁素体测试仪SP10a

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