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产品名称:
电解式镀层膜厚仪
产品型号:
GalvanoTest 2000
产品展商:
德国EPK ElektroPhysik
关注指数:1465
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简单介绍
电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000是德国ElektroPhysik(简称EPK)公司一款通过库伦法测量电镀层厚度的仪器。电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000利用法拉第原理设计，其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。库仑法测厚是对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解，通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时间来进行镀层厚度的测量。
电解式镀层膜厚仪的详细介绍
电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000含支架,RS-232口,三种电解液,有统计功能。
电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000根据相应的电解液可测实际应用的所有镀层，利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层，GalvanoTest 200符合标准：DIN EN ISO 2177。
电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000功能表（测量表示有此功能）：
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库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 2000可以测量
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功能
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可以测量70种以上镀层/基体组合
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测量
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可以测量平面、曲面上的镀层
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测量
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可以测量小零件、导线、线状零件
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测量
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预置10种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉、Au金（需提供样品确定）
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无
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预置9种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。
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测量
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用户可另设置8种金属的测量参数
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无
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用户可另设置1种金属的测量参数
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测量
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库仑镀层测厚仪测量机构：
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带循环泵
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无
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带气泵
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测量
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电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000、库仑镀层测厚仪测量面积：
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密封垫 8 mm2
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测量
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密封垫 4 mm2
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测量
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密封片 1 mm2
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测量
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密封片 0.25 mm2（涂镀层面积几乎小得看不见）
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电解杯 0.25-16 mm2 （可选件）
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测量
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库仑镀层测厚仪测量参数优化调整：
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除镀速度0.3-40 μm/分钟可调
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测量
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根据金属和测量表面可直接调整系数
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测量
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可用厚度标准样板校准
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测量
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可调整终点电压，以抗干扰，适应镀层/基体之间的合金
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测量
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电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000的数据存储
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可存储不同金属测量参数的数目
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10
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可存储的读数和统计值
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2000
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仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。
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测量
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库仑镀层测厚仪统计计算：
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显示6种统计值：均值、标准偏差、变异系数、大、小值、读数个数
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测量
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立即或稍后显示统计值
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测量
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立即或稍后打印读数和统计值
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无
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显示、打印年、月、日、时、分
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测量
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用于外设的计算机接口：
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MINIPRINT 微型打印机接口
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测量
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RS-232，PC计算机接口
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测量
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连接x-t计录仪模拟电压输出接口
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测量
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电解液饱和报警指示
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无
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测量的不确定性：
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5%，在8mm2面积下，经校准
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测量
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库仑镀层测厚仪电源：
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110/220V，50/60HZ，10W
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测量
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电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000测量范围：
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大测量范围：0.05-75μm
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测量
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电解式镀层膜厚仪GalvanoTest 2000进阶型号GalvanoTest 3000资料请参相关文档。
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