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X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
产品型号: FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237
产品展商: 德国菲希尔fischer
关注指数:3165
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简单介绍
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的*合适的测量仪器。

X射线荧光镀层测厚及材料分析仪的详细介绍

X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237采用手动或自动方式,测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。典型的应用领域有:

1,测量大规模生产的电镀零部件

2,测量微小区域上的薄镀层

3,测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

4,全自动测量,如测量印刷线路板

 

X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237为每次测量创造理想的激发条件,仪器配备可电动调整的多个准直器和基本滤片。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237系统有着出色的精-确性和良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,节省时间和精力。由于采用了基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。

 

X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237设计理念:

1,FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237设计为界面友好的台式测量仪器系列,配备了马达驱动的X/Y工作台,当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程Z轴升降系统。

2,高分辨率的彩色视频摄像头可方便精-确定位测量位置。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。

3,测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。

4,带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精-确调整。

5,所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。

6,XDLM237型镀层测厚及材料分析仪完全满足DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准,型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规规定。

 

X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237参数规格:

1,通用规格

设计用途

能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构, 分析合金和微量组分。

元素范围

从元素 (17)  (92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时,*多可同时测定24种元素

形式设计

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

从上到下

 

2,X射线源

X射线管

带铍窗口的微聚焦钨管

高压

三档: 30 kV40 kV50 kV

孔径(准直器)

标准(523-440

可选(523-366

可选(524-061

4个可切换准直器

[mm]: Ø0.1, Ø0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: Ø0.1, Ø0.2, Ø0.3, 0.3x0.05 [mm]: Ø0.1, Ø0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

基本滤片

3种可切换的基本滤片(标准配置:镍,铝,无)

测量点

取决于测量距离及使用的准直器大小, 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 *小的测量点大小:光圈约Ø 0.1 mm(选用准直器0.05x0.05 mm时)

 

 

3,X射线探测

X射线接收器

测量距离

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用砖利保护的DCM测量距离补偿法

 

4,视频系统

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦,对被测位置进行监控 十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸) 可调节亮度的LED照明,激光光点用于精-确定位样品

放大倍数

40x - 160x

5,电气参数

电源要求

交流 220 V 50 Hz

功率

*- 120 W (不包括计算机)

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸

xx[mm]570 x 760 x 650

内部测量室尺寸

重量

xx[mm]460 x 495 x 146

120kg

 

6,工作台

设计

马达驱动可编程X/Y平台

*-大移动范围                    255 × 235 mm

X/Y平台移动速度                 80 mm/s

X/Y平台移动重复精度             0.01 mm, 单向

可用样品放置区域                300 × 350 mm

Z                              可编程运行

Z轴移动范围                    140 mm

样品*-大重量                    5 kg,降低精度可达20kg

样品*-大高度                    140 mm

环境要求

使用时温度

10°C – 40°C

存储或运输温度

0°C – 50°C

空气相对湿度

 95 %, 无结露

计算单元

计算机

带扩展卡的计算机系统

软件

标准: WinFTM® V.6 LIGHT 可选: WinFTM® V.6 BASICPDM®SUPER

7X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪XDLM 237执行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式批准

-全而保护**的测量仪器, 型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规规定。

8X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪订货号

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

604-347

 

 

 

 

如有特殊要求,可与FISCHER磋商,定制特殊的XDLM型号。

其他测量仪仪器:铁素体测量仪SP10a、紫外线灯PS135、超声波测厚仪27mg

 






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