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泛美超聲波測厚儀單晶探頭

]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: 泛美超聲波測厚儀單晶探頭
產品型號: M106-SM V260-SM M2008 M208-SM
產品展商: 美國泛美panametrics
關注指數:10028
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹
泛美超聲波測厚儀單晶探頭用于厚度測量,區別于如D799/D790-SM等用于腐蝕測厚操作的雙晶探頭。泛美超聲波測厚儀單晶探頭可以分類為:接觸式探頭如M106-SM、Sonopen探頭如V260-SM、水浸探頭如M316-SU、延遲塊探頭如M2008/M208-SM等

泛美超聲波測厚儀單晶探頭的詳細介紹

泛美超聲波測厚儀單晶探頭有眾多種類,具體有:M101-SB、M102-SB、M103-SB、M106-RM、M106-SM、M1036、M109-RM、M109-SM、M110-RM、M110-SM、M110H-RM、M112-RM 、M112-SM、M112H-RM、M1016、M116-RM、M116-SM、M116H-RM、V260-SM、M306-SU、M309-SU、M310-SU、M312-SU、M313-SU、M316-SU、M2008、M207-RB、M206-RB、M201-RM、M201H-RM、M202-RM、M202-SM、M202H-RM、M203-RM、M203-SM、M208-RM、M208-SM、M208H-RM、M2055、V213-BC-RM。各個探頭具體參數指標如下表:


觸式探頭(泛美超聲波測厚儀單晶探頭)

頻率

晶片直徑


探頭


工件編號

mm

in.

0.5

25

1.00

M101-SB*

U8400017

1.0

25

1.00

M102-SB*

U8400018

1.0

13

0.5

M103-SB*

U8400020

2.25

13

0.5

M106-RM

U8400023

M106-SM

U8400025

2.25

13

0.5

M1036

U8400020

5.0

13

0.5

M109-RM

U8400027

M109-SM

U8400028

5.0

6

0.25

M110-RM

U8400030

M110-SM 
M110H-RM**

U8400031 
U8400029

10

6

0.25

M112-RM 
M112-SM

U8400034 
U8400035 
U8400033

M112H-RM**

U8400033

10

3

0.125

M1016

U8400015

20

3

0.125

M116-RM

U8400038

M116-SM

U8400039

20

3

0.125

M116H-RM**

U8400037

*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。 
**
需使用彈簧加載支架。 

 

Sonopen 探頭(泛美超聲波測厚儀單晶探頭)

Sonopen探頭的延遲塊可以更換,其端部為錐形,可接觸到極其狹窄的區域。這種探頭可以在測量渦輪葉片厚度及塑料容器的內圓角的厚度等應用中提供可靠的厚度讀數。

Sonopen - 15 MHz3 mm0.125 in.)探頭

平直手柄

直角手柄

45°手柄

工件

工件 
編號

工件

工件 
編號

工件

工件 
編號

V260-SM

U8411019

V260-RM

U8411018

V260-45

U8411017

 

Sonopen - 可替換的延遲塊(泛美超聲波測厚儀單晶探頭)

直徑

工件

工件 
編號

mm

in.

2.0

0.080

DLP-3

U8770086

1.5

0.060

DLP-302

U8770088

2.0

0.080

DLP-301†

U8770087

高溫延遲,可用于高達175°C的溫度。

 

水浸探頭(泛美超聲波測厚儀單晶探頭)

Panametrics Microscan水浸探頭的設計目的是在水中傳播并接收超聲波。當被測樣件的幾何形狀較為復雜或進行在線檢測時,通過水浸技術獲得的厚度讀數通常更為可靠。典型的離線應用包含對小直徑塑料或金屬管件的壁厚測量,掃查或旋轉測量,以及對大幅彎曲的樣件進行的厚度測量。在某些應用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區域。

頻率
MHz

晶片直徑


探頭


工件編號

mm

in.

2.25

13

0.50

M306-SU

U8410027

5.0

13

0.50

M309-SU

U8420001

5.0

6

0.25

M310-SU

U8420004

10

6

0.25

M312-SU

U8420008

15

6

0.25

M313-SU

U8420009

20

3

0.125

M316-SU

U8420011

RBS-1水浸箱

RBS-1水浸箱的設計目的是簡化利用水浸技術的超聲測厚操作。

 

延遲塊探頭(泛美超聲波測厚儀單晶探頭)

Microscan延遲塊探頭可在測量極薄材料,溫度極高,或要求極高厚度分辨率的應用中,發揮的測量性能。

頻率 
MHz

晶片 
直徑


探頭


工件 
編號


支架


工件 
編號

mm

in.

0.5

25

1.00

M2008*

U8415001

-

-

2.25

13

0.50

M207-RB

U8410017

-

-

5.0

13

0.50

M206-RB

U8410016

-

-

5.0

6

0.25

M201-RM

U8410001

-

-

5.0

6

0.25

M201H-RM

U8411030

2127

U8770408


10


6


0.25

M202-RM

U8410003


-


-

M202-SM

U8410004

10

6

0.25

M202H-RM

U8507023

2127

U8770408


10


3


0.125

M203-RM

U8410006


-


-

M203-SM

U8410007


20


3


0.125

M208-RM

U8410019


-


-

M208-SM

U8410020

20

3

0.125

M208H-RM

U8410018

2133

U8770412

20

3

0.125

M2055**

U8415013

-

-

30

6

0.25

V213-BC-RM**

U8411022

-

-

*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。 
**
這些探頭中的延遲塊不能替換。

 

可替換的延遲塊 (泛美超聲波測厚儀單晶探頭)

延遲塊的作用是在被測樣件表面與探頭晶片之間充當保護性緩沖器。

晶片 
直徑

延遲塊

大厚度 
測量極限*

mm

in.

工件

工件 
編號

- 模式2

- 模式3

塑料- 模式2

mm

in.

mm

in.

mm

in.

13

0.50

DLH-2

U8770062

25

1.0

13

0.5

13

0.5

6

0.25

DLH-1

U8770054

25

1.0

13

0.5

13

0.50

3

0.125

DLH-3

U8770069

13

0.5

5

0.2

5

0.2

 

附加產品(泛美超聲波測厚儀單晶探頭)

泛美常溫耦合劑和泛美高溫耦合劑

為得到探頭與被測樣件之間的聲學耦合,幾乎總會需要液體耦合劑。我們所提供的各種耦合劑幾乎可以適用于所有應用。

 

校準試塊

試塊是校準超聲測厚儀的必要工具,為保持、核查超聲測量的性、獨立性及可靠性,一定要使用校準試塊。試塊所使用的公差標準較ASTM E797規范中表述的公差更為嚴格。我們備有公制單位的試塊。

 

探頭線纜

我們提供適用于所有超聲測厚儀器的各種探頭線纜。

標準型

防水型

耐用型

特氟綸(Teflon

PVC外殼

帶硅樹脂外殼

不銹鋼

其他相關測量儀器:鐵素體測試儀SP10a

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