菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務，由于測量距離可以調節（*大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件。使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）。
菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230設計理念：
1，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅動的 Z 軸系統。
2，高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。
3，測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
4，帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精-確調整。
5，所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成。
6，XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器，型式許可完全符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。
菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230基本應用：
1，鍍層厚度測量
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導電層和/或隔離層
復雜幾何形狀產品上的鍍層
鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
2，材料分析
電鍍槽液分析
電子和半導體行業中的功能性鍍層分析
菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控，典型的應用領域有：
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液
XDL230 有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 FISCHER 完全基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230規格概述：
1、通用規格
a，設計用途：能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
b，元素范圍：從元素 氯(17) 到 鈾(92)，配有可選的 WinFTM® BASIC 軟件時，*多可同時測定 24 種元素。
c，設計理念 臺式儀器，測量門向上開啟
d，測量方向 由上往下
2、X射線源
a，X 射線管：帶鈹窗口的鎢管
b，高壓：三檔30 kV，40 kV，50 kV
c，孔徑（準直器）：Ø 0.3 mm 可選：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形 0.3 mm
x 0.05 mm
d，測量點尺寸：取決于測量距離及使用的準直器大小，實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致*小的測量點大小約Ø 0.2mm
3、X射線探測
X 射線接收器：比例接收器
測量距離：0 ~ 80 mm，使用磚利保護的 DCM
測量距離補償法
4、樣品定位
a，視頻系統：高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置，手動聚焦，對被測位置進行監控，十字線（帶有經過校準的刻度和測量 點尺寸），可調節亮度的LED照明，激光光點用于精-確定位樣品。
b，放大倍數：40x–160x
5、電氣參數
電源要求：220 V ，50 Hz
功率：*大 120 W（不包括計算機）
保護等級：IP40
6、尺寸規格
外部尺寸：寬×深×高[mm] 570×760×650
內部測量室尺寸：寬×深×高[mm] 460×495x（參考“樣品*大高度”部分的說明）
重量：107 kg
7、環境要求
使用時溫度：10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度：0°C – 50°C
空氣相對濕度：≤ 95 %，無結露
8、工作臺
設計：手動 X/Y 平臺
X/Y 平臺*大移動范圍：95 x 150 mm
可用樣品放置區域：420 x 450 mm
Z 軸：馬達驅動
Z 軸移動范圍：140 mm
樣品*大重量：20kg
樣品*大高度：140 mm
激光（1 級）定位點：有
9、計算單元
a，計算機：帶擴展卡的 Windows ® 計算機系統
b，軟件：標準： WinFTM ® V.6 LIGHT、可選： WinFTM
® V.6 BASIC，PDM，SUPER
10、執行標準
a，CE合格標準：EN 61010
b，型式許可：作為受完全保護的儀器，型式許可完全符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。
菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230訂貨號：
FISCHERSCOPE X-RAY
XDL230 604-496
如有特殊要求，可與FISCHER 磋商，定制特殊的XDL型號。
FISCHERSCOPE ® ;
XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen–Germany的注冊商標。
其他檢測儀器：瑞典蘭寶紫外線燈、鐵素體含量檢測儀。
