電科院技能比武大賽指定熒光光譜儀技術規格

名稱

單位

參數

X射線發射裝置

kV

X射線源為帶鈹窗口的鎢管。三種高壓： 30 ，40 ，50 ，可切換

探測器

比例接收器

X-RAY測量系統

1       功能滿足表面鍍層厚度測試、5種元素含量分析

2       元素測量范圍：Cl(17)到U(92)之間的元素；(頂層)

3       可以對合金含量無損定量分析；

*4     無損測量鍍層時不受底材影響；

*5     可以進行無標準片測量，內部設定12純元素頻譜庫

*6     無標準片可以建立測量程式，當公司產品有新的鍍種需測量時，可以添加新的測量程式，且廠家可免費提供此項服務

*7     儀器有”mq”值顯示

*8     可以測量凹陷0—80mm的工件

*9     X射線源為帶鈹窗口的鎢管。三種高壓：30 kV，40 kV，50 kV，可切換；

10     頂層厚度>0.5μm，經標準片校正后，測量精度≤5%；無標準片校正，測量精度≤10%。

*11   分析電鍍液內金屬 離子濃度（需選配電鍍液分析附件）。

*12   測量方向：由上往下，非接觸式測量；

13     視頻顯微鏡，高分辨CCD彩色攝像頭，用于查看測量位置，手動調焦： 十字線刻度和測量點大小經過校準測量區域照明亮度可調。

14     放大倍數范圍少：40x～160x (光學變焦: 40x； 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

X-Y-Z軸紫銅

1       樣品工作臺：可手動調節的X/Y軸平臺，便于放置超大超長的樣品。可用樣品放置區域不小于：長420mm x 寬450mm；X/Y平臺大移動范圍不小于95×150mm

2       Z軸馬達驅動，大移動范圍140mm，配備有激光定位點。

準直器

mm

圓形φ0.3

系統軟件

1       WinFTM Light 軟件

2       設備配備中文友好操作界面，滿足鍍層厚度測試、元素分析應用；

3       軟件具備統計過程控制（SPC）功能；

標準片

校驗標準塊套件 Ag/Ni

統計功能

具備統計及SPC功能。輸入統計參數，便可制作比例圖，累積或然率圖并分別顯示鍍層厚度及含量等資料

輻射**

*環保廳輻射豁免函

操作語言

英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，
及中文

使用環境

℃

使用時溫度10– 40

存儲或運輸時溫度0– 50

空氣相對濕度≤ 95 %，無結露

資質要求及標準

DIN ISO 3497和ASTM B 568 X射線標準

質保期

一年

儀器重量

kg

107